齒厚卡尺綜合誤差檢具
使用說明

一、用途：對齒厚卡尺的綜合誤差進行檢定。
二、主要技術參數
1、外形尺寸（表1）：
測量范圍（mm） 圓柱直徑（mm）
一個 **個
M1～16
M2～16 φ5x40 φ18x50
M5～36 φ12x50 φ35x50
表1
2、測量范圍：（見表1）
3、直徑偏差＜±0.002毫米
4、表面光潔度不低于10
三、檢定方法：
1、根據表1選定相應的尺寸進行檢測。
2、弦長S及相應弦高h按下式計算：
S=d*Soca0
h= (d*（1-Sina_0）)/2  ……（2）
（S值和h值均應取至小數點后**位）式中：S—弦長（毫米），h—弦高（毫米），d—圓柱直徑（毫米），a0—基本齒形角（度）。
為了讀數方便，可將h值的小數點后**位變為偶數，然后按新的h值帶入下式求出S值：
S=2√(dh-h^2 )  ……（3）
3、檢定時，先將弦高按預先計算好的h值定好，然后測量弦長S，實測S值與理論S值之差即為綜合誤差。
圓柱直徑（毫米）
（d） 弦高（毫米）
（h） 理論S值
（S）
φ5 1.645 4.699
φ12 3.948 11.276
φ18 5.922 16.915
φ35 11.515 32.890
注：本表為基本齒形角a_0=〖Sin20〗^0時h和S的相應理論值。