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容器組件
平晶使用方法
日期：2025-03-24 21:41
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摘要：
平晶使用方法
平面平晶具體規格有Ф30mm；Ф45mm；Ф60mm；Ф80mm；Ф100mm；Ф150mm；Ф200mm；Ф250mm；Ф300mm共計九款。
平面平晶主要和NG-C2高精度鈉光燈箱配套使用，用于以干涉法檢驗塊規、量規、零件密封面、測量儀器以及測量工具量面的研合性和平面度，適用于光學加工廠、廠礦企業計量室、精密加工車間、閥門密封面現場檢測使用，也適用于高等院校、科學研究等單位做平面度等檢測。
測量時，把平晶放在被測表面上，且與被測表面形成一個很小的楔角 ，以單色光源照射時會產生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關。如入射光線垂直于被測表面，且平晶與被測表面間的間隙很小，則由平晶測量面P 反射的光線與被測表面反射的光線在測量面 P 發生干涉而出現明或暗的干涉條紋。若在白光下，則出現彩色干涉條紋。如干涉條紋平直，相互平行，且分布均勻，則表示被測表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲，則表示平面度不好。其誤差值為，式中 為兩干涉條紋間距離， 為干涉條紋的彎曲值， 為光波波長，白光波長一般以0.6微米計算。
當干涉條紋平直、互相平行，且又均勻分布時，則說明其平面度好；當干涉條紋不規則、且無規律時，則說明其平面度不好。
平面平晶的干涉條紋平直則表示平面好.如果是彩色光圈一圈則是0.3微米,如看到不是一圈而是多圈則用所看到的圈數乘以0.3則是它的平面度.如是弧形則表示是0.3以下
根據干涉條紋計算平面度誤差
1）測量時若出現向一個方向彎曲的干涉條紋，如圖所示，調整平晶位置，使之出現3～5條干涉帶，則平面度誤差的近似值為：
f= (v/w)×(λ/2)
λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm,v為干涉帶彎曲量，w為干涉帶間距
但是如何**確定v和w的值,我也很迷惑!
2）根據光圈計算平面度誤差
若被測平面凹或凸，則會出現環形干涉帶，調整平晶的位置，使干涉帶數為少，則平面度誤差的近似值為：
f＝(λ/2) ×n
λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm；n為平晶直徑方向上的光圈數
示意圖如下：
1）測量時若出現向一個方向彎曲的干涉條紋，如圖所示，調整平晶位置，使之出現3～5條干涉帶，則平面度誤差的近似值為：
f= (v/w)×(λ/2)
λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm,v為干涉帶彎曲量，w為干涉帶間距
但是如何**確定v和w的值,我也很迷惑!
2）根據光圈計算平面度誤差
若被測平面凹或凸，則會出現環形干涉帶，調整平晶的位置，使干涉帶數為少，則平面度誤差的近似值為：
f＝(λ/2) ×n
λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm；n為平晶直徑方向上的光圈數
示意圖如下：
