產(chǎn)品目錄 PRODUCT
- 殘磁儀係列
- 顯微鏡係列
- 投影儀、影像儀係列
- 殘磁測量儀
- 退磁器
- 體視顯微鏡
- 實體顯微鏡
- 金相顯微鏡
- 偏光顯微鏡
- 生物顯微鏡
- 熒光顯微鏡
- 倒置顯微鏡
- 工具顯微鏡
- 讀數(shù)顯微鏡
- 金相試驗設(shè)備
- 測量投影儀
- 影像測量儀
- 測長儀/測高儀
- 三坐標(biāo)測量機
- 公司軟件係列
- 光譜儀係列
- 驗鋼鏡/看譜鏡
- 粗糙度儀
- 測厚儀係列
- 超聲波探傷儀
- 裡氏硬度計
- 便攜式硬度計
- 臺式硬度計
- 標(biāo)準(zhǔn)硬度塊
- 推拉力計
- 溫濕度計
- 紅外測溫儀
- 水份測試儀
- 風(fēng)速儀/轉(zhuǎn)速表
- 噪音計/照度計
- 秒表/濃度計
- 扭力扳手
- 角度量儀
- 雙色電刻機
- 光學(xué)平晶
- 磁性表座
- 量具檢具
- 標(biāo)準(zhǔn)量塊
- 精密派尺
- 工量具係列
- 二手儀器設(shè)備區(qū)
- 山特UPS不間斷電源
容器組件
平晶使用方法
日期：2025-03-27 20:08
瀏覽次數(shù)：1624
摘要：
平晶使用方法
平麵平晶具體規(guī)格有Ф30mm；Ф45mm；Ф60mm；Ф80mm；Ф100mm；Ф150mm；Ф200mm；Ф250mm；Ф300mm共計九款。
平麵平晶主要和NG-C2高精度鈉光燈箱配套使用，用於以乾涉法檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封麵、測量儀器以及測量工具量麵的研合性和平麵度，適用於光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計量室、精密加工車間、閥門密封麵現(xiàn)場檢測使用，也適用於高等院校、科學(xué)研究等單位做平麵度等檢測。
測量時，把平晶放在被測表麵上，且與被測表麵形成一個很小的楔角 ，以單色光源照射時會產(chǎn)生乾涉條紋。乾涉條紋的位置與光線的入射角有關(guān)。如入射光線垂直於被測表麵，且平晶與被測表麵間的間隙很小，則由平晶測量麵P 反射的光線與被測表麵反射的光線在測量麵 P 發(fā)生乾涉而出現(xiàn)明或暗的乾涉條紋。若在白光下，則出現(xiàn)彩色乾涉條紋。如乾涉條紋平直，相互平行，且分布均勻，則表示被測表麵的平麵度很好；如乾涉條紋彎曲，則表示平麵度不好。其誤差值為，式中 為兩乾涉條紋間距離， 為乾涉條紋的彎曲值， 為光波波長，白光波長一般以0.6微米計算。
當(dāng)乾涉條紋平直、互相平行，且又均勻分布時，則說明其平麵度好；當(dāng)乾涉條紋不規(guī)則、且無規(guī)律時，則說明其平麵度不好。
平麵平晶的乾涉條紋平直則表示平麵好.如果是彩色光圈一圈則是0.3微米,如看到不是一圈而是多圈則用所看到的圈數(shù)乘以0.3則是它的平麵度.如是弧形則表示是0.3以下
根據(jù)乾涉條紋計算平麵度誤差
1）測量時若出現(xiàn)向一個方向彎曲的乾涉條紋，如圖所示，調(diào)整平晶位置，使之出現(xiàn)3～5條乾涉帶，則平麵度誤差的近似值為：
f= (v/w)×(λ/2)
λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm,v為乾涉帶彎曲量，w為乾涉帶間距
但是如何**確定v和w的值,我也很迷惑!
2）根據(jù)光圈計算平麵度誤差
若被測平麵凹或凸，則會出現(xiàn)環(huán)形乾涉帶，調(diào)整平晶的位置，使乾涉帶數(shù)為少，則平麵度誤差的近似值為：
f＝(λ/2) ×n
λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm；n為平晶直徑方向上的光圈數(shù)
示意圖如下：
1）測量時若出現(xiàn)向一個方向彎曲的乾涉條紋，如圖所示，調(diào)整平晶位置，使之出現(xiàn)3～5條乾涉帶，則平麵度誤差的近似值為：
f= (v/w)×(λ/2)
λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm,v為乾涉帶彎曲量，w為乾涉帶間距
但是如何**確定v和w的值,我也很迷惑!
2）根據(jù)光圈計算平麵度誤差
若被測平麵凹或凸，則會出現(xiàn)環(huán)形乾涉帶，調(diào)整平晶的位置，使乾涉帶數(shù)為少，則平麵度誤差的近似值為：
f＝(λ/2) ×n
λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm；n為平晶直徑方向上的光圈數(shù)
示意圖如下：
