產(chǎn)品目錄 PRODUCT
- 殘磁儀係列
- 顯微鏡係列
- 投影儀、影像儀係列
- 殘磁測量儀
- 退磁器
- 體視顯微鏡
- 實體顯微鏡
- 金相顯微鏡
- 偏光顯微鏡
- 生物顯微鏡
- 熒光顯微鏡
- 倒置顯微鏡
- 工具顯微鏡
- 讀數(shù)顯微鏡
- 金相試驗設備
- 測量投影儀
- 影像測量儀
- 測長儀/測高儀
- 三坐標測量機
- 公司軟件係列
- 光譜儀係列
- 驗鋼鏡/看譜鏡
- 粗糙度儀
- 測厚儀係列
- 超聲波探傷儀
- 裡氏硬度計
- 便攜式硬度計
- 臺式硬度計
- 標準硬度塊
- 推拉力計
- 溫濕度計
- 紅外測溫儀
- 水份測試儀
- 風速儀/轉速表
- 噪音計/照度計
- 秒表/濃度計
- 扭力扳手
- 角度量儀
- 雙色電刻機
- 光學平晶
- 磁性表座
- 量具檢具
- 標準量塊
- 精密派尺
- 工量具係列
- 二手儀器設備區(qū)
- 山特UPS不間斷電源
容器組件
平麵平晶如何判斷平麵及乾涉條紋？
日期：2025-03-27 20:09
瀏覽次數(shù)：2057
摘要：
摘要：圓形平晶利用什麼原理進行波的傳播，它的平麵如何判斷？下麵南京米厘特公司將進行一係列的介紹。
**、圓形平晶利用什麼原理進行波的傳播
就是利用光線的乾涉原理，在波的傳播過程中，介質中質點的振動雖頻率相同，但步調不一致，在波的傳播方向上相距△x=（n=0，1，2，…）兩個質點的振動步調一致，為同相點；相距（n=0，1，2，…）的兩個質點的振動步調相反，為反相點。
波源S1、S2產(chǎn)生兩列波在同一介質中傳播，介質中各質點同時參與兩個振源引起的振動。質點的振動為這兩個振動的矢量和，介質中的P點，如圖離兩波源距離分彆是S1P、S2P，若S1、S2是同步振動，那麼它們對P引起的振動的步調差彆完全由距離差△s=S1P－S2P決定。當△s=（n=0，1，2，…），即距離差為波長的整數(shù)倍時，兩波源在P點引起的振動的步調一致，為同相振動，疊加結果是兩數(shù)值之和，即振動加強，是強點；當（n=0，1，2，…），即距離差為半波長的奇數(shù)倍時，兩振源在P點引起的振動的步調相反，為反相振動，疊加結果是兩數(shù)值之差，即振動減弱，是弱點；由此看來，強點與弱點隻與位置有關，不隨時間變化。正因為不隨時間變化，才被觀察到，才能形成乾涉圖樣。
**、圓形平晶平麵如何判斷？
利用平麵平晶檢查外徑千分尺的平麵度時，出現(xiàn)了同心圓形的彩色條紋，平麵度如何判斷
這個要手把手才說得清楚的，簡單說下吧如果凹的話，條紋就要向間隔增大的方向移動如果凸的話，條紋就要向間隔減小的方向移動。
第三、什麼是光學平晶檢查
“計算乾涉條紋誤差”，你說的是用乾涉條紋來計算平晶的麵形誤差吧？如果要如果要了解詳細的請關注本公司網(wǎng)站。
第四、為什麼用平行平晶測光線平行度是乾涉條紋越少越好
1.根據(jù)等厚乾涉乾涉原理，平行光進入晶體內。
2.如果晶體是平行的話。
3.同理，如果晶體不平行，那麼晶體表麵的乾涉就與晶體的厚度有關係，那麼看到了乾涉條紋。當然冇有條紋更好，有條紋說明平行度不好。所以用平行平晶測光線平行度是乾涉條紋越少越好。平麵平晶如何判斷平麵及乾涉條紋？
**、圓形平晶利用什麼原理進行波的傳播
就是利用光線的乾涉原理，在波的傳播過程中，介質中質點的振動雖頻率相同，但步調不一致，在波的傳播方向上相距△x=（n=0，1，2，…）兩個質點的振動步調一致，為同相點；相距（n=0，1，2，…）的兩個質點的振動步調相反，為反相點。
波源S1、S2產(chǎn)生兩列波在同一介質中傳播，介質中各質點同時參與兩個振源引起的振動。質點的振動為這兩個振動的矢量和，介質中的P點，如圖離兩波源距離分彆是S1P、S2P，若S1、S2是同步振動，那麼它們對P引起的振動的步調差彆完全由距離差△s=S1P－S2P決定。當△s=（n=0，1，2，…），即距離差為波長的整數(shù)倍時，兩波源在P點引起的振動的步調一致，為同相振動，疊加結果是兩數(shù)值之和，即振動加強，是強點；當（n=0，1，2，…），即距離差為半波長的奇數(shù)倍時，兩振源在P點引起的振動的步調相反，為反相振動，疊加結果是兩數(shù)值之差，即振動減弱，是弱點；由此看來，強點與弱點隻與位置有關，不隨時間變化。正因為不隨時間變化，才被觀察到，才能形成乾涉圖樣。
**、圓形平晶平麵如何判斷？
利用平麵平晶檢查外徑千分尺的平麵度時，出現(xiàn)了同心圓形的彩色條紋，平麵度如何判斷
這個要手把手才說得清楚的，簡單說下吧如果凹的話，條紋就要向間隔增大的方向移動如果凸的話，條紋就要向間隔減小的方向移動。
第三、什麼是光學平晶檢查
“計算乾涉條紋誤差”，你說的是用乾涉條紋來計算平晶的麵形誤差吧？如果要如果要了解詳細的請關注本公司網(wǎng)站。
第四、為什麼用平行平晶測光線平行度是乾涉條紋越少越好
1.根據(jù)等厚乾涉乾涉原理，平行光進入晶體內。
2.如果晶體是平行的話。
3.同理，如果晶體不平行，那麼晶體表麵的乾涉就與晶體的厚度有關係，那麼看到了乾涉條紋。當然冇有條紋更好，有條紋說明平行度不好。所以用平行平晶測光線平行度是乾涉條紋越少越好。平麵平晶如何判斷平麵及乾涉條紋？
